S-4800是一个真正多用途平台，拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面，使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。
采用了新型ExB式探测器和电子束减速功能，提高了图像质量，尤其是将低加速电压下的图像质量提高到了新的水平；新型透镜系统，提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式，使以往无法实现的工作得以轻松完成。
特点：
1.最高达80万倍的放大倍数，高的成像分辨率：1.0nm/15kV，1.4nm/1kV（减速模式）；
2.拥有电子束减速技术，将1kV下的分辨率提高了30％，不仅减少了电子对样品的损伤还可用于分析浅表面形貌；
3.优秀的分辨率稳定性；
4.人性化的用户操作界面，多种透镜模式可供选择。
技术指标：
分辨率：1.0nm (15kV)
2.0nm (1kV)
1.4nm(1KV)入射电子减速功能
加速电压：0.5 ~ 30kV，0.1kV/步
放大倍率：×20 ~×800,000
束流强度：1pA~2nA
物镜光栏：加热自清洁式、四孔、可移动物镜光栏
样品室和样品台：
移动范围：X：0~50mm；Y：0~5mm；Z：1.5~30mm；T：-5~70°；R：360°
最大样品尺寸：100mm
探测器:高位探头可选择接受二次电子像或背散射像，并混合
扫描模式：TV扫描(扫描速度不低于0.033s/帧)，慢扫描，用于观察和记录
电子图像移动：±12μm (WD=8mm)
真空系统：
真空度：10-7Pa (电子枪)；10-4Pa (样品室)
X射线能谱仪
分辨率/有效面积：不低于133eV，30mm2
2. 每小时限做2个样品，每多一个样品加收100元；
送样请下载填写 ”SEM测试送样登记表”，经负责人签字后方可进行测试。
