一、仪器设备名称：扫描探针显微镜(SPM)
型号：Dimension Icon
生产厂家：Veeco Instruments Inc.
仪器性能及主要技术参数：
SPM利用具有纳米量级曲率半径的微探针在样品表面往复扫描从而获得样品表面的细微结构，拥有可同时获得样品表面纳米量级形貌及特定物性特征的能力。SPM主要应用于纳米材料科学研究以及其它需对样品表面的微纳米结构进行表征的相关研究领域。
成像范围： 70μm×70μm×5μm；
分辨率： 横向0.1nm， 纵向0.01nm；
样品尺寸： 直径<= 200mm， 厚度<= 15mm；
成像模式： ScanAsyst模式、Contact模式、Tapping模式、Lift模式。
二、服务项目（测试项目）
AFM、LFM、MFM等。
三、测试样品要求：
样品无毒、不易碎、不挥发、不潮解；
体块样品应厚度均匀、整体洁净且待测表面粗糙度适合检测；
薄膜及颗粒样品应牢固地附着于平整的衬底材料表面。
四、服务指南
负责人：于光伟
联系方式（请提前预约机时）
E-mail：gwyu@sdu.edu.cn
仪器放置地点：
功能晶体材料楼 339房间
收费标准：
校内350元/机时，校外500元/机时；扫描探针费用另计。
