仪器设备
扫描探针显微镜
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| 设备名称: Scanning Probe Microscope (SPM) 分类编号: 03040136 设备编号: 2002201105 规格型号: NanoScope Multimode and NanoScope Dimension 3100 (NanoScope Ⅲa Controller) 生产厂家: Digital Instruments (USA) 设备单价: 150万元(RMB) 技术指标: 最大成像范围120×120×5μm3; 最高分辨率: 横向0.1nm, 纵向0.01nm; 样品尺寸: 直径<= 200mm; 厚度<= 12mm 功能： 可实现原子力显微镜 (AFM)、扫描隧道显微镜 (STM)、磁力显微镜 (MFM)、 静电力显微镜 (EFM)、摩擦力显微镜 (LFM)等项功能, 并可于纳米结构加工. 成像模式: Contact模式、Tapping模式、lift模式等. 分析内容: 在对样品表面微纳尺寸范围内的三维形貌进行分析研究的基础上, 还可提供样品表面摩擦特性、粘性、磁性、电场力分布、表面势能分布等多种信息. 应用范围: 可对材料、化工、机械、电子、生物等研究领域的样品进行检测和分析. 设备地点: 功能晶体材料楼339室 对外开放时间: 每周一、周二下午, 需提前预约机时. 开放服务项目: Tapping Mode AFM, Contact Mode AFM. 收费标准: 300元/时 (校内标准, 探针费用另计) 负责人: 于光伟 (gwyu@sdu.edu.cn) |